活動名稱
發明創作診斷交流會（IDDF｜Invention Diagnosis & Design Forum）
活動定位
一場以「診斷為核心，而非單向授課」的創新交流會，協助企業與研發團隊快速辨識發明創作與技術創新的真實卡關點、風險點與突破路徑。
活動簡介
發明創作的困難，往往不在於沒有想法，而在於無法判斷哪些想法值得投入。
IDDF 以「創新診斷 × 問題解構 × 發明設計」為主軸，結合包括但不限於 TRIZ(創新工具)、AI 輔助創新(系統化AI代理人工作流)、技術系統分析、專利挖掘與 FTO(freedom-to-operate) 思維，透過實際案例與互動式討論，帶領參與者學會如何從混亂的技術與需求中，快速萃取具備工程可行性、專利潛力與商業價值的發明方向。
這不是一場理論講座，而是一場讓你「看懂問題、判斷方向、避免錯誤投入」的創新體檢與能力升級交流會。
活動亮點
- 系統化「發明創作診斷」方法，快速找出研發卡關真因
- AI × TRIZ 輔助創新流程，提升發明品質與效率
- 專利挖掘與 FTO 風險的前端整合視角
- 真實案例解析，避免常見創新與專利誤區
- 高互動交流，促進跨角色（RD / IP / 管理）對齊
適合對象
- 研發工程師、技術主管、研發經理
- 創新、產品、技術策略負責人
- 企業 IP / 專利 / 法務相關人員
- 正面臨研發卡關、專利風險或創新瓶頸的團隊
完成報名，活動當天，免費獲得本活動相關高品質投影片一份(10~15頁)。
活動關鍵詞（SEO）
發明創作、創新診斷、TRIZ、AI輔助創新、專利挖掘、FTO分析、研發卡關、技術問題解決、創新方法論、研發創新
*本活動有最低開辦人數限制，敬請知悉。
