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AI IC and Automotive IC Test Technology Forum 人工智慧晶片及車用晶片測試技術論壇

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2018.02.06 (Tue) 12:30 - 16:30 (GMT+8)Add To Calendar

芙洛麗大飯店3樓I廳

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在人工智慧、物聯網、5G、雲端運算、車用電子等新興應用逐漸從發想演變為實際商品應用,以及系統級、晶圓級封裝等先進封裝技術持續進展的雙重趨勢推動下,創新與高階IC測試需求也因應而生,也為測試領域創造新的市場機會與挑戰......
在人工智慧、物聯網、5G、雲端運算、車用電子等新興應用逐漸從發想演變為實際商品應用,以及系統級、晶圓級封裝等先進封裝技術持續進展的雙重趨勢推動下,創新與高階IC測試需求也因應而生,也為測試領域創造新的市場機會與挑戰......

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Event Introduction

日期:2018年2月6日

時間:12:30-16:30  ( 報到時間 12:30-13:00 )

地點:新竹芙洛麗大飯店3樓Ⅰ廳 (新竹市民族路69號)

在人工智慧、物聯網、5G、雲端運算、車用電子等新興應用逐漸從發想演變為實際商品應用,以及系統級、晶圓級封裝等先進封裝技術持續進展的雙重趨勢推動下,創新與高階IC 測試需求也因應而生,也為測試領域創造新的市場機會與挑戰;研究單位預測到2025 年AI 的產值可望達到386 億美元,而車用電子的產值則會達到584 億美元,受到這兩股強大驅動力的帶動,市場持續看好AI應用與車用電子成為半導體大宗應用的領域。SEMI 希望藉由本研討會作為產業交流平台,邀請 MediaTek、TSMC、KYEC 及 Advantest Tawian 等產業界重量級講師,以「AI IC and Automotive IC Test Technology Forum 人工智慧晶片及車用晶片測試技術論壇」為主題,探討下個世代半導體測試產業的機會與挑戰。

精彩分享,不容錯過,敬邀各界人士到場聆聽指教!


Agenda


* 主辦單位保留變更議程與講師之權利


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SEMI 國際半導體產業協會

AI IC and Automotive IC Test Technology Forum 人工智慧晶片及車用晶片測試技術論壇

2018.02.06 (Tue) 12:30 - 16:30 (GMT+8)

Guests

吳誠文
吳誠文
陳海力
陳海力
楊斐杰
楊斐杰
陳文如
陳文如
蘇勇鴻
蘇勇鴻
葉瑞斌
葉瑞斌
宋栢安
宋栢安
Map

新竹市民族路69號

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